Welldisk使用專有的寬溫測(cè)試流程以確保Flash模塊的可靠度。每項(xiàng)產(chǎn)品需通過高溫循環(huán)測(cè)試機(jī)檢驗(yàn)，而寬溫產(chǎn)品都通過了這項(xiàng)嚴(yán)苛的內(nèi)部檢測(cè)。
Flash模塊被放置在極端、溫度快速改變的寬溫循環(huán)測(cè)試機(jī)內(nèi)，目的是為了讓產(chǎn)品在最嚴(yán)苛的環(huán)境條件下測(cè)試。
注：環(huán)境溫度(Ta)被用來作溫度參考
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